1. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
المؤلف: Sachdev, Manoj.
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
2. IDDQ testing of VLSI circuits
المؤلف: / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
رده :
TK
7874
.
I3223
1993
3. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
المؤلف: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
4. Integrated circuit manufacturability
المؤلف: edited by Josae Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Integrated circuits, Computer-aided design,Metal oxide semiconductors, Complementary, Computer-aided design,Integrated circuits, Testing
رده :
TK
,
7874
,.
I4713
5. Microelectronic test structures for CMOS technolog
المؤلف: / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local
رده :
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
6. Microelectronic test structures for CMOS technology
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;
7. Microelectronic test structures for CMOS technology
المؤلف: / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده :
TK
,
7871
.
99
,.
M44
,
B49
,
2011
8. Microelectronic test structures for CMOS technology
المؤلف: / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده :
TK7871
.
99
.
M44B49
2011
